服務熱線
17701039158
產品中心
PRODUCTS CNTER產品分類
相關文章
BEUKER白光干涉儀:表面形貌測量新選擇 BEUKER白光干涉光學輪廓儀采用非接觸式測量技術,適用于微納米級表面形貌分析。其核心部件采用高質量光學鏡頭和穩定光源系統,確保測量數據的可靠性。
Bruker白光干涉儀高效非接觸式表面測量工具 Bruker白光干涉儀(如ContourGT系列)是一款優良的三維光學表面輪廓儀,廣泛應用于科研、工業和質量控制領域。該設備采用白光干涉技術,通過測量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測量方式避免了對樣品的物理損傷,適用于多種材料和復雜表面的測量。
Bruker白光干涉儀:表面測量解決方案 Bruker白光干涉儀(如ContourGT系列)是一款優良的三維光學表面輪廓儀,廣泛應用于科研、工業和質量控制領域。該設備采用白光干涉技術,通過測量光程差來獲取樣品表面的三維形貌和粗糙度信息。其非接觸式測量方式避免了對樣品的物理損傷,適用于多種材料和復雜表面的測量。
布魯克白光干涉光學輪廓儀微納檢測觸手可及。布魯克Contour X系列以“高適應性、易操作、低維護”為核心設計理念,幫助用戶將微納檢測從專業實驗室延伸至量產產線,為智能制造提供可靠的質量控制手段。
布魯克白光干涉光學輪廓儀形貌測量新維度布魯克Contour X系列白光干涉光學輪廓儀,以光學干涉技術為核心,通過非接觸式測量實現亞納米級表面形貌分析。其垂直分辨率突破0.1nm,橫向采樣密度達640×480點/次,可在5-20秒內完成單次掃描,兼顧效率與精度。
布魯克白光干涉光學輪廓儀落地式全能選手 ContourX - 1000 采用落地式設計,機身穩固。其集成了 Bruker 傾斜 / 俯仰光學頭,雙光源、自動化的物鏡轉盤和樣品臺,以及可選配的晶圓卡盤 。這種創新設計為各種復雜應用提供了極大便利,對于有難度的表面和深溝槽結構也能輕松應對。操作界面配備簡潔且有引導性的 VisionXpress™程序和模式,降低了操作人員的使用難度,即使經驗不足也能快速