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產(chǎn)品中心三維光學(xué)輪廓儀SensofarSensofar S neox光學(xué)輪廓儀多樣表面測量
產(chǎn)品簡介
Sensofar S neox光學(xué)輪廓儀多樣表面測量在微納尺度表面表征領(lǐng)域，Sensofar S neox光學(xué)輪廓儀通過創(chuàng)新的多技術(shù)融合設(shè)計(jì)，為科研與工業(yè)應(yīng)用提供了可靠的測量解決方案。該設(shè)備整合了共聚焦顯微鏡、干涉儀和白光干涉儀三種測量模式，能夠適應(yīng)不同特性的樣品表面分析需求。
產(chǎn)品分類
在微納尺度表面表征領(lǐng)域，Sensofar S neox光學(xué)輪廓儀通過創(chuàng)新的多技術(shù)融合設(shè)計(jì)，為科研與工業(yè)應(yīng)用提供了可靠的測量解決方案。該設(shè)備整合了共聚焦顯微鏡、干涉儀和白光干涉儀三種測量模式，能夠適應(yīng)不同特性的樣品表面分析需求。
多模式測量技術(shù)特點(diǎn)：
共聚焦模式適用于高陡坡表面測量
干涉模式可實(shí)現(xiàn)亞納米級分辨率
白光干涉模式提供較大視場的三維形貌重建
自動(dòng)模式識(shí)別功能可智能選擇優(yōu)良測量方案
典型應(yīng)用場景：
微電子行業(yè)：晶圓、MEMS器件表面檢測
精密加工：刀具、模具表面質(zhì)量評估
材料研究：涂層、薄膜表面形貌分析
生物醫(yī)學(xué)：植入物表面特性表征
智能化操作體驗(yàn)：
配備直觀的測量分析軟件
支持自動(dòng)化測量流程
提供全面的表面參數(shù)分析功能
可定制化測量方案滿足特殊需求
Sensofar S neox憑借其靈活的多技術(shù)集成設(shè)計(jì)，為表面形貌測量提供了更多可能性。如需了解設(shè)備詳細(xì)技術(shù)參數(shù)或獲取應(yīng)用支持，歡迎聯(lián)系Sensofar專業(yè)技術(shù)服務(wù)團(tuán)隊(duì)。
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