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技術文章
TECHNICAL ARTICLES在現代制造業和科研領域，平面度的精確測量至關重要。無論是汽車發動機的缸蓋密封性檢測，還是航空發動機葉片的平整度評估，都需要依賴高精度的測量工具。白光干涉儀，憑借其優秀的橫向和縱向分辨率，已成為平面度測量的選擇利器。白光干涉儀的工作原理基于光的干涉現象。當一束白光照射在待測物體表面時，會形成反射光和透射光。這兩束光相遇后，會產生干涉現象，形成明暗相間的干涉條紋。干涉條紋的形狀和間距與物體表面的形貌密切相關。通過比較標準平面和待測物體表面的干涉條紋，我們可以精確計算出待測物體表面...
在現代科技飛速發展的今天，精密測量儀器的設計不僅要滿足高精度的測量需求，更要注重美觀與集成的便捷性。三維共聚焦白光干涉儀測量頭，以其杰出的性能和特殊的設計，成為了市面上最漂亮的可集成區域共聚焦傳感器之一。這款測量頭的設計充分體現了現代工業設計的精髓。其外觀簡潔流暢，線條優美，無論是從哪個角度看，都透露出一種精致的美感。同時，它的體積小巧，結構緊湊，這使得它在集成到各種測量系統中時，能夠輕松融入，不會占用過多空間，也不會干擾到其他設備的正常運行。更重要的是，這款三維共聚焦白光干...
在當今的材料科學與納米技術領域，原位分析技術已經成為科學家們探索微觀世界至關重要的工具。其中，澤攸科技推出的SEM（掃描電子顯微鏡）和TEM（透射電子顯微鏡）原位分析系統，以其杰出的性能和廣泛的應用領域，贏得了國內外科研人員的廣泛贊譽。SEM原位分析系統通過電子束掃描樣品表面，利用二次電子、背散射電子等信號成像，能夠直觀展示樣品的表面形貌和化學成分分布。這一技術不僅分辨率高，而且景深大，使得樣品表面的微小細節得以清晰呈現。更重要的是，澤攸SEM原位分析系統還配備了原位拉伸、加...
Sensofar共聚焦白光干涉儀是一種高性能的3D光學輪廓測量儀器，其結合了共聚焦、干涉測量等多種先進技術，實現了對物體表面形貌的高精度測量。以下是對其測量原理與技術的詳細解析：一、測量原理干涉測量原理干涉技術的基本原理是將光分成光學傳播路徑不同的兩個光束，然后再合并，從而產生干涉現象。在干涉物鏡的作用下，顯微鏡可以作為干涉儀工作。當焦點對準后，可在樣本上觀察到干涉條紋。這些條紋的強度和相位信息反映了樣本表面的高度信息。共聚焦測量原理共聚焦技術通過多個光源和探測器組合，實現對...
隨著半導體技術的不斷發展，芯片尺寸的逐漸縮小以及制造工藝的精細化，使得對材料和器件表面精度的要求越來越高。在半導體行業，尤其是在集成電路(IC)和光刻工藝中，表面平整度（平面度）的測量變得尤為重要。傳統的平面度測量方法往往難以滿足現代半導體制造的高精度需求，而白光干涉儀因其非接觸、高分辨率、全局性測量特性，成為半導體行業中的一種重要工具，廣泛應用于半導體制造中的平面度檢測。一、白光干涉儀原理概述本儀器基于干涉原理，利用白光源的寬光譜特性，通過測量反射光與參考光之間的干涉條紋來...
觀察–分析–辨別在微電子學和微電子機械系統工業中，您需要觀察、分析和辨別產品的特性。過程控制和失效分析中同樣需要使用顯微鏡。設備物理結構的知識對了解過程至關重要。微電子產品的開發和微電子機械系統（MEMS）的設計依賴于高效的顯微鏡。運用不同的光學顯微技術，可以檢測產品的不同特征，如裂紋、孔洞或結點。在小型機械設備制造中，光學顯微鏡常常被用來評估模型及用于監測精密機械加工結果。質量控制–需要合適的工具三維成像技術能為很多質量控制方面的檢測提供便利。共焦掃描顯微鏡可檢測諸如焊接點...
堅固耐用的常規儀器和先進的研究工具在機械工程和多種機械設備及配件的生產制造中會經常使用光學和電子顯微鏡。它們需要堅固耐用的常規標準化測量儀器和先進精密的研究工具。在新材料研發、表面處理、焊接點和緊固件的過程控制，以及質量控制與失效分析等領域中，您可以使用光學顯微鏡進行檢測分析。結構檢驗鋼結構部件斷裂的根源往往是因為微觀結構的瑕疵，而斷裂結構以及微觀瑕疵都能在光學顯微鏡下進行觀察辨別。諸如螺母和螺栓等緊固件的完整性對器具裝置的結構安全而言是相當重要的。通常而言，檢驗通過重點關注...
化學工業和制造業在化工業和塑料產品制造業中，無論您是進行高分子原材料的生產，還是進行工業和最終消費產品的生產，光學和電子顯微鏡都發揮著重要的作用。塑料零部件和結構化組件在航空航天、汽車、建筑等行業乃至醫療設備中均起到重要的作用。結晶晶體形貌不僅影響了高分子材料的所有機械性能，也影響其生物降解性和生物兼容性。為了成功地控制聚合物的微觀結構并達到預期特性，您需要對高分子材料結晶過程有一個很好的理解。正置式顯微鏡和偏光顯微鏡不僅能夠用于檢測成品，也能用于檢測晶體在原位的生長（通常與...