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布魯克白光干涉光學輪廓儀研發到產線應用

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布魯克白光干涉光學輪廓儀研發到產線應用
布魯克白光干涉儀的應用范圍覆蓋了從前沿科學研究到工業化生產的多個環節。

產品型號:
更新時間:2025-10-21
廠商性質:代理商
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布魯克白光干涉儀的應用范圍覆蓋了從前沿科學研究到工業化生產的多個環節。布魯克白光干涉光學輪廓儀研發到產線應用

研發領域,例如微機電系統(MEMS)器件的設計中,研究人員利用其高分辨率特性,精確測量微結構的形變、應力和振動模式,驗證設計模型。在新材料實驗室,它用于觀察材料表面的磨損、腐蝕痕跡或涂層覆蓋情況,評估材料性能。

工業生產與質量控制中,其作用同樣重要。在半導體行業,用于測量晶圓上的薄膜厚度、CMP工藝后的平整度以及光刻膠圖形的關鍵尺寸。在精密光學領域,用于檢測透鏡、棱鏡等元件的面形誤差和表面質量。甚至在汽車工業中,也可用于分析發動機關鍵摩擦副零件的表面粗糙度,以控制生產工藝。

儀器的穩定性和自動化能力,使其能夠從對環境要求嚴苛的實驗室,移植到振動較多、但環境受控的生產車間,實現線上或線旁的快速檢測,及時反饋生產狀態。

軟件是其價值的核心體現。測量完成后,軟件提供豐富的分析工具:

  1. 三維形貌視圖: 以直觀的三維圖像展示表面起伏。

  2. 二維輪廓提取: 可在任意位置截取截面線,進行臺階高度、角度等尺寸量測。

  3. 粗糙度分析: 依據國際標準(如ISO 25178),計算Sa, Sq, Sz等一系列粗糙度參數。

  4. 體積分析: 用于分析磨損、腐蝕或材料的體積損失。

  5. 統計與報表生成: 可對多次測量結果進行統計分析,并一鍵生成定制化的檢測報告。

這些功能將原始的干涉數據轉化為有價值的量化信息,為工藝改進和質量控制提供直接依據。布魯克白光干涉光學輪廓儀研發到產線應用


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