對于需要較高測量精度的場景,澤攸 ZY - 1000 臺階儀憑借其精細的設計和穩定的性能,能提供可靠的測量數據,適合科研機構和高精度制造企業使用。
澤攸 ZY - 1000 臺階儀高精度測量得力助手
產品細節
ZY - 1000 的機身設計注重穩定性,底部設有防震腳墊,減少外界振動的影響。操作界面采用觸摸屏設計,可直觀設置各項參數,支持自定義測量程序,方便針對不同樣品保存測量方案。樣品臺配備微米級調節旋鈕,能精準調整樣品的位置,確保測量點對準。測量探頭配有保護蓋,閑置時可有效防塵防潮。
產品性能
該臺階儀的測量分辨率較高,能捕捉到微小的臺階高度變化和表面凹凸細節。采用閉環控制的傳動系統,探頭移動的定位精度較好,多次測量同一位置的偏差較小。它具備數據統計功能,可對多組測量結果進行平均值、最大值、最小值的計算,便于分析樣品的整體狀況。對光學鏡片、半導體晶圓等高精度表面的測量效果較好。
用材講究
ZY - 1000 的測量探頭采用特殊的寶石材料,硬度高且耐磨性強,保證了長期高精度測量的穩定性。設備內部的光學傳感器選用高靈敏度元件,能精確感知探頭的微小位移。樣品臺采用天然花崗巖材質,具備良好的穩定性和抗震性,確保測量過程中樣品臺自身的形變極小。
參數詳情
廣泛用途
在半導體晶圓制造中,可測量光刻膠臺階、蝕刻深度,為晶圓加工工藝的優化提供數據支持。在光學元件生產中,能檢測透鏡表面的曲率臺階、鍍膜厚度,保障光學元件的成像質量。在精密儀器研發中,可測量微小機械結構的臺階尺寸和表面粗糙度,確保儀器的正常運行。
使用說明
設備需放置在恒溫恒濕的實驗室環境中,避免陽光直射和氣流干擾。使用前對設備進行校準,按照說明書的步驟用標準樣品調整測量精度。放置樣品時,使用專用的樣品座,確保樣品與樣品臺緊密貼合。通過觸摸屏設置詳細的測量參數,包括測量路徑、采樣間隔等,啟動測量后耐心等待完成。測量數據可導出至電腦進行進一步分析,設備使用后需關閉電源,蓋上防塵罩。澤攸 ZY - 1000 臺階儀高精度測量得力助手