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澤攸臺式掃描電鏡
高分辨成像:ZEM系列臺式電鏡介紹
高分辨成像:ZEM系列臺式電鏡介紹對于尋求高分辨成像能力的用戶,澤攸電鏡的ZEM系列臺式掃描電鏡將高性能融入小巧的機身中。該產品減少了用戶對大型設備空間的依賴。
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產品細節與用材:
ZEM系列采用陶瓷真空腔體和高穩定性電子光學系統,旨在減少熱漂移現象。關鍵部件如樣品臺采用步進電機,移動重復性有所表現。
核心參數(ZEM 15例):
分辨率:3.0nm @30kV (SE)
放大倍數:5x - 300,000x
加速電壓:1kV - 30kV
探測器:可伸縮式二次電子探測器
用途:
廣泛應用于高校教學、工業領域的質量檢測、失效分析以及科研機構的日常研究工作。
使用簡述:
操作流程簡化,從放入樣品到獲得圖像通常只需幾分鐘。觸摸屏界面方便進行主要參數調節和圖像采集。
高分辨成像:ZEM系列臺式電鏡介紹 澤攸透射電鏡