原位MEMS技術：動態(tài)觀測的新選擇

澤攸科技的原位MEMS技術采用微納加工工藝制造，可與主流透射電鏡兼容，適用于多種原位實驗場景，例如：

• 熱學實驗：通過精準控溫，觀察材料在加熱或冷卻過程中的相變、晶格演變等行為。

• 力學實驗：對納米材料或薄膜施加可控應力，研究其變形、斷裂等力學響應。

• 電學實驗：施加電場或電流，研究材料的電致形變、導電性變化等現(xiàn)象。

該技術采用低應力設計，有助于減少樣品漂移，提高成像穩(wěn)定性，使長時間原位觀測成為可能。

技術特點與優(yōu)勢

澤攸科技的原位MEMS產品具有以下特點：

• 兼容性強：適配多種品牌透射電鏡，支持標準樣品桿接口。

• 高精度控制：溫控、力加載等參數(shù)可精確調節(jié)，滿足不同實驗需求。

• 緊湊設計：MEMS芯片尺寸小，便于集成到TEM樣品臺，減少對電子束的遮擋。

• 多場景適用：適用于材料科學、半導體、能源存儲等領域的研究。

應用案例

該技術已在多個研究方向得到應用，例如：

• 納米材料研究：觀察碳納米管、二維材料等在熱或力作用下的結構演變。

• 催化反應：原位監(jiān)測催化劑在高溫或氣氛環(huán)境下的動態(tài)行為。

• 電池材料：研究電極材料在充放電過程中的微觀結構變化。

結語

澤攸科技的透射電鏡原位MEMS技術為動態(tài)微觀表征提供了新的實驗手段，可能幫助研究人員更深入地理解材料在外場作用下的行為。如需了解更多技術細節(jié)或應用案例，歡迎聯(lián)系澤攸科技技術支持團隊獲取進一步信息。