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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
Sensofar S lynx高精度光學(xué)輪廓測(cè)量新選擇
在精密測(cè)量領(lǐng)域,Sensofar S lynx 光學(xué)輪廓儀憑借其靈活性和高精度,為科研與工業(yè)檢測(cè)提供了可靠的表面形貌測(cè)量解決方案。該設(shè)備結(jié)合了共聚焦、干涉和白光干涉三種測(cè)量技術(shù),適用于多種材料與表面特性的分析需求。Sensofar S lynx高精度光學(xué)輪廓測(cè)量新選擇
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Sensofar S lynx高精度光學(xué)輪廓測(cè)量新選擇Sensofar S lynx高精度光學(xué)輪廓測(cè)量新選擇
在精密測(cè)量領(lǐng)域,Sensofar S lynx 光學(xué)輪廓儀憑借其靈活性和高精度,為科研與工業(yè)檢測(cè)提供了可靠的表面形貌測(cè)量解決方案。該設(shè)備結(jié)合了共聚焦、干涉和白光干涉三種測(cè)量技術(shù),適用于多種材料與表面特性的分析需求。
Sensofar S lynx 采用模塊化設(shè)計(jì),用戶可根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的測(cè)量模式:
共聚焦模式:適用于高陡坡和粗糙表面測(cè)量,如金屬加工、微結(jié)構(gòu)檢測(cè)等。
干涉模式:提供亞納米級(jí)分辨率,適合光滑表面或薄膜分析。
白光干涉模式:兼顧橫向分辨率與垂直精度,可用于微米級(jí)結(jié)構(gòu)的3D形貌重建。
這種多技術(shù)集成的方式,使設(shè)備能夠適應(yīng)從微電子到生物醫(yī)學(xué)等不同行業(yè)的測(cè)量需求。
Sensofar S lynx 配備了直觀的軟件系統(tǒng),支持自動(dòng)化測(cè)量流程和數(shù)據(jù)分析,減少人為操作誤差。其非接觸式測(cè)量特性有助于保護(hù)敏感樣品,同時(shí)提高檢測(cè)效率。此外,設(shè)備可根據(jù)樣品特性自動(dòng)優(yōu)化參數(shù),幫助用戶快速獲取可靠數(shù)據(jù)。
該設(shè)備已在多個(gè)領(lǐng)域得到應(yīng)用,包括:
半導(dǎo)體制造:晶圓、光刻膠等微結(jié)構(gòu)檢測(cè)
精密加工:刀具、模具表面質(zhì)量評(píng)估
材料科學(xué):涂層、薄膜厚度與粗糙度分析
生物醫(yī)學(xué):植入物、細(xì)胞培養(yǎng)基底的表面表征
Sensofar S lynx 光學(xué)輪廓儀通過(guò)多技術(shù)融合與智能化設(shè)計(jì),為表面形貌測(cè)量提供了靈活且高效的解決方案。對(duì)于需要高精度表面分析的研究機(jī)構(gòu)或企業(yè)而言,這款設(shè)備可能是一個(gè)值得考慮的選擇。Sensofar S lynx高精度光學(xué)輪廓測(cè)量新選擇Sensofar S lynx高精度光學(xué)輪廓測(cè)量新選擇
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